ST-102B型探针测试台
ST-102B型探针测试台（英文叫Prober station,中文又称中测台,点测机。)、与测试仪器配接后可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适用于科研、新品试制及小批量生产的中间测试。
技 术 指 标 ：
工作台面 | 370mm*245mm |
载物台直径 | 4" |
放大倍数 | 10-100倍连续变倍； |
监视方式 | CCD摄像头、监视器； |
光学参数 | 手轮调焦范围：60mm；升降调焦范围：200mm； |
精密旋转台 | 粗调范围：360°；微调范围：±10°；z小刻划：1°； |
三维探针座 | 探针座X、Y、Z方向调节范围：±3.25mm，分辨率±2μ； |
探针 | 探针材质硬质合金，针尖曲率半径2μm； |
标准配置：主工作台、CCD摄像头、监视器、三维微调座2个、探针臂2支、探针2支。
可选配件：三维微调架、探针臂、探针、真空泵。
可按用户的实际需求进行订做。
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