SZT-C快速恒压四探针测试仪测试台
一 、功能与结构特征概述
基本功能：SZT-C型四探针测试台，是用来装夹四探针探头，连接四探针测试仪器，放置样品，进行手动方式测试的机具。是四探针法测试电阻率/方块电阻（方阻）仪器的配套测量装置（以下简称测试台）。
基本组成：主要有载物台(180mmX180mm净载物面积)、双轨垂直导向单元、测试压力调节单元、探头快速升降扳手(顶部戴红套部分)、探头连接板等单元。
配套与兼容：本测试台可选配本公司suo有型号的四探针测试探头，包括钨针四探针探头（测试硬质样品用），镀金合金探头（测试柔性薄膜或涂层方阻zhuan用）；本测试台兼容本公司suo有四探针测试仪器。本测试台加配本公司探头，可兼容国内同行绝大多数四探针电阻率/方阻测试仪器。
二、可测半导体材料尺寸 （探头手持方式不限）
直径或边长:SZT-C测试台直接测试方式 Φ15～180mm，或180mm×180mm。
长(或高)度： 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.
测量方位： 轴向、径向均可
三 、使用方法
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