ST2571A-F02型薄膜方阻矩形四探针探头
一 、功能与结构特征概述
ST2571A-F02薄膜方阻矩形四探针探头
基本功能：ST2571A-F02 型薄膜方阻矩形四探针探头，矩形1.0mmX1.0mm微针距，有球形尖镀金磷铜合金探针，配以四探针仪器和测试台，用以测试柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。
基本组成：成套探头有可拆换式碳化钨探针、探针夹持单元、探针和探头压力缓冲弹簧、手持式外套、测试台连接单元，仪器连接线缆等部件组成。
配套与兼容：本探头兼容本公司suo有四探针仪器和四探针测试台，如下表主要型号，配以本公司测试台，也可兼容其他大部分厂家四探针仪器。
ST2571A-F02型薄膜方阻矩形四探针探头适用产品部分型号及名称列表
测试台型号名称 | 四探针仪器型号名称 | ||
型号 | 名称 | 型号 | 名称 |
SZT-A | 四探针测试台 | ST2253 | 数字式四探针测试仪 |
SZT-B | 电动四探针测试台 | ST2258A | 多功能数字式四探针测试仪 |
SZT-C | 快速恒压四探针测试台 | ST2263 | 双电测数字式四探针测试仪 |
M-2 | 手持式四探针测试仪 | ||
M-3 | 手持式四探针测试仪 | ||
…… | 其他厂家型号 | ||
RST-4/8 | 数字式四探针测试仪 | ||
SDY-4 | 数字式四探针测试仪 | ||
二、主要技术参数及说明
1 可测片料块料或棒料等。z小样品尺寸2mm×2mm，z大平面尺寸，由所配测试台决定，手持探头方式不限。
2 .1探 针 间 距：矩形1.0mmX1.0mm微针距。
2.2探针机械游移率： ±0.5%。
2.3探 针：镀金磷铜合金，Φ0.28mm。
2.4压 力： 0～200g可调,额定压力约160g。
3 探针为可快捷拆换型，方便生产线频繁使用。
4 本公司可为顾客长期代购探针配件，价格优惠，服务周到。
三、使用方式，请参照各配套测试台使用方式。
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