DSY-II型单晶少子寿命测试仪

DSY-II型单晶少子寿命测试仪

产品型号:DSY-II

负责人:张雅丽

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产品详情

DSY-II型单晶少子寿命测试仪

品名

DSY-II型单晶少子寿命测试仪

特点/规格

*.用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。本仪器根据国际通用方法高频光电导衰退法的原理设计,由稳压电源、高频源、检波放大器,te制的InGaAsp/InP红外光源及样品台共五部份组成;
  *.测试单晶电阻率范围:>10Ω.cm
  *可测单晶少子寿命范围:20μS-5000μS;

 


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